HS-CMR法で太陽電池製造の高効率化、低コスト化、高品質化に貢献

発表のポイント

• 太陽電池の特性はシリコン（Si）結晶基板の品質と大いに関係があるため、仕入れ検査等ではSi結晶基板の品質評価が必須。
• しかし従来の品質評価手法では品質のばらつき、開発効率の低さが大きな課題であった。
• 本社はシリコン結晶基板を高速かつ高精度に評価できる新測定装置の製造?販売を行い、太陽電池生産の高効率化、低コスト化、高品質化に貢献する。

詳細説明

　太陽電池用シリコン（Si）結晶基板は光エネルギーを電気エネルギーに変換するための半導体素子で、現在太陽電池市場で最も高いシェアを占めています。従来、太陽電池用Si結晶基板の出荷?仕入れ検査などでは、主としてSi基板表面の電子の寿命を測定する方法（反射マイクロ波光導電減衰法等）が品質評価法として用いられてきました。しかしその手法では太陽電池のエネルギー変換効率を正確に測定することが難しく、また測定時間も長いため、結果として太陽電池の品質のばらつきや開発効率の低下につながり、大きな課題となっています。

　株式会社パンソリューションテクノロジーズでは「HS-CMR法」という新たな評価手法を用いた新測定装置の製造?販売いたします。本技術はSi結晶基板のみから太陽電池のエネルギー変換効率を高精度に得る事ができ、測定時間も基板1枚あたり10秒と大幅な時間削減となります。この度その実用化に成功し、太陽電池製造業界が抱える問題に対して大きな解決策を提供できることとなりました。

従来の太陽電池品質測定法との比較

詳細（プレスリリース本文）

問い合わせ先

＜事業?製品に関すること＞
（株）パンソリューションテクノロジーズ　
代表取締役社長　松島　悟
TEL：022-216-7155
Email：matsushima.str*gmail.com（*を@に置き換えてください）

＜報道に関すること＞
東北大学金属材料研究所情報企画室広報班
TEL：022-215-2144
Email：pro-adm*imr.tohoku.ac.jp（*を@に置き換えてください）